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重庆电子芯片温度冲击试验箱

供应商:安徽奥科试验设备有限公司【公司商铺】

所在地:安徽省合肥市

联系人:吴先生

价格:面议

品牌:奥科环试

发布时间:2023-11-15

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【产品详情】重庆电子芯片温度冲击试验箱

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一、产品用途 温度冲击试验箱又叫冷热冲击试验箱,它广泛用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验,特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选(ESS)试验。 二、产品规格(mm) 1.型号WDCJ-50  工作室尺寸D×W×H 320×350×450 外形尺寸D×W×H 1500×1600×2020 2.型号WDCJ-100 工作室尺寸D×W×H400×500×500 外形尺寸D×W×H 1500×1700×2020 3.型号WDCJ-150 工作室尺寸D×W×H500×500×600 外形尺寸D×W×H 1600×1700×2100 4.型号WDCJ-225 工作室尺寸D×W×H750×600×500 外形尺寸D×W×H 2000×1800×2100 5.型号WDCJ-250 工作室尺寸D×W×H700×650×550 外形尺寸D×W×H 2000×2000×2100 6.型号WDCJ-500 工作室尺寸D×W×H800×800×800 外形尺寸D×W×H 2500×2500×2100 7.型号WDCJ-010 工作室尺寸D×W×H1000×1000×1000外形尺寸D×W×H 3500×3500×2200 8.型号WDCJ-015 工作室尺寸D×W×H1500×1000×1000外形尺寸D×W×H 4200×3800×3800 三、技术参数 1.温度冲击范围:0℃~150℃(A),-20℃~150℃(B)、-40℃~150℃(C)、-60℃~150℃(D); 2.温度范围:-20℃~200℃(A)、-40℃~200℃(B)、-60℃~200℃(C)、  -70℃~200℃(D) 3.试验区:①温度波动度±0.5℃(温度恒定后),②温度偏差≤3℃; 4.高低温区:温度波动度≤±2.0℃; 5.升温速率:1.0~3.0℃/min; 6.降温速率:0.7~1.0℃/min; 7.温度转换时间:≤5s(样品从高温区到低温区或从低温区到高温区); 8.温度恢复时间:≤5min 9.温度转换方式:气动风门切换,换气式,做静态运行。 10.电源电压:AC380±10%V  50Hz

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