产品库

膜厚测量仪是测量材料薄膜厚度的常用工具。其主要原理是基于物质的电磁学性质来进行测量，可以通过电磁波的反射或透射特性来得出膜层的厚度。它广泛应用于各种行业领域，包括电子、化工、钢铁、医药等，用于检测薄膜材料的厚度和均匀性，以及评估产品的质量和生产效率。常见的膜厚测量仪包括X射线荧光、介电常数计、光学膜厚仪、红外测量仪等。 膜厚测量仪的主要特点： 1、非接触式测试。测量膜厚时不会直接接触待测材料，从而不会对其造成任何损害或变形。 2、高精度测量。精度可以达到纳米级别。同时，它的测量结果也较为准确、可靠。 3、大范围适用。适用于多种不同材料的膜厚测量，如金属、陶瓷、涂料等，应用范围广泛。 4、实时显示。可以实时显示待测材料的膜厚。对于需要进行即时监控的生产场合，它具有较高的实用性。 更多产品信息来源：http://www.dymek.com.cn/ParentList-2165923.html https://www.chem17.com/st110205/list_2165923.html