冷热冲击试验箱维修厂家优质冷热冲击试验箱冷热冲击使用箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试半导体电子器件材料结构在瞬间下经极高温及 温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。
冷热冲击试验箱维修厂家优质冷热冲击试验箱冷热冲击使用箱质量优势：主要核心配件均采用 大品牌的配件如法国泰康或德国比泽尔压缩机，控制器有韩国三元、日本OYO、台湾台通三大品牌供客户选择，继电器有日本路宫、和泉、三菱、施耐德，美国杜邦环保冷媒，丹麦(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，假一罚十，能确保冷热冲击试验箱长期正常 的运行。
半导体器件（semiconductor device）通常，这些半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件（即晶体二极管）的基本结构是一个PN结。利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极，可用来产生、控制、接收、变换、放大信 号和进行能量转换。晶体二极管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波。三端器件一 般是有源器件，典型代表是各种晶体管（又称晶体三极管）。
冷热冲击试验箱维修厂家优质冷热冲击试验箱冷热冲击使用箱技术参数表：
 
冷热冲击试验箱型号
 

LQ-TS-80A
LQ-TS-80B
LQ-TS-80C
LQ-TS-150A
LQ-TS-150B
LQ-TS-150C
LQ-TS-250A
LQ-TS-250B
LQ-TS-250C
LQ-TS-1000A
LQ-TS-1000B
LQ-TS-1000C
标称内容积（升）
80
150
250
300
试验方式
气动风门切换2温室或3温室方式
性能
高温室
预热温度范围
＋60～＋200℃
升温速率※1
＋60→＋200℃≤30分钟
低温室
预冷温度范围
－75－0℃
降温速率※1
＋20→－75℃≤30分钟
试验室