深圳谷易电子生产的LGA124pin芯片探针老化座socket 的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 LGA124pin芯片老化测试座规格参数： 芯片封装类型：LGA 芯片引脚：124pin 芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：8.2*10.5mm 产品简介： 适用于芯片HAST/HTOL老化测试 LGA124pin芯片老化测试条件要求： 芯片老化测试温度：125°，持续老化时长：1000小时 芯片测试电流：1A 芯片老化测试湿度：85% 测试座结构：旋钮翻盖式 测试座材料：合金