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高电压源测单元
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功率mos管大电流I-V测试脉冲源表
iv测试仪@iv+cv测试设备
宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体测试仪器
利用数字源表测试光电二极管电性能
半导体特性曲线分析仪CV+IV测试仪
高电压源测单元
联系人:
陶女士
QQ号码:
1993323884
电话号码:
027-87993690
手机号码:
18140663476
Email地址:
1993323884@qq.com
公司地址:
湖北省武汉市江夏区东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园8栋2楼
产品介绍
高电压源测单元简介
高电压源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在D一象限,输出及测量电压0~3000V,输出及测量电流0~100mA。支持恒压恒流工作模式,同时支持丰富的I-V扫描模式。
设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防雷二极管耐压测试、压敏电阻耐压测试等场合。其恒流模式对于快速测量击穿点具有重大意义。
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