武汉普赛斯仪表有限公司
主营产品:源表,数字源表,脉冲电流源,脉冲源表,VCSEL测试系统
首页
企业介绍
产品展示
商情展示
新闻中心
联系我们
您当前的位置:
首页
>
产品展示
>>
电流源表微电流I-V曲线扫描
产品展示
Products
功率mos管大电流I-V测试脉冲源表
iv测试仪@iv+cv测试设备
宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体测试仪器
利用数字源表测试光电二极管电性能
半导体特性曲线分析仪CV+IV测试仪
电流源表微电流I-V曲线扫描
联系人:
陶女士
QQ号码:
1993323884
电话号码:
027-87993690
手机号码:
18140663476
Email地址:
1993323884@qq.com
公司地址:
湖北省武汉市江夏区东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园8栋2楼
产品介绍
电流源表微电流I-V曲线扫描认准普赛斯仪表,普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,准确度提升至± %,直流电流升级至3A,可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案;详询一八一四零六六三四七六;
S型数字源表应用优势:
1、多功能测量需求下的广泛的适应性,电压高达300V,电流低至30pA;
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行,提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能,可进行自我限制,避免因过充而造成的对测试器件的损害;
晶确的电压电流限制功能,为器件提供完善的保护功能,避免器件损坏。
4、触屏图形化操作,使用简单。开放式平台,可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
电流源表微电流I-V曲线扫描应用
分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;
相关推荐
查看更多产品
功率mos管大电流I-V测试脉冲源表
宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体测试仪器
利用数字源表测试光电二极管电性能
半导体特性曲线分析仪CV+IV测试仪
关于我们
产品展示
联系我们
CopyRight © 版权所有: 武汉普赛斯仪表有限公司