产品介绍
一、 概述
F-200A半导体器件通用测试机是专为测量包括二极管、MOS管、IGBT、毫欧电阻等电子器件正向压降而设计,正向电流分为 - 、 ~1A、1~10A、10~200A四个档位,测量范围更广。
~ :小电流硅堆、(高压二极管:定制60V)、 内的小电流MOS管和二极管、LED、10~100Ω电阻等测试;
~10A:中小功率二极管、MOS管、 ~1Ω电阻;
10~200A:大功率二极管、MOS管、IGBT管、0~ Ω电阻、开关触点压降稳定性测试
二、技术参数
1. 正向脉冲电流调节范围: A~200A,四个档位,每个档位步进为档位满量程的 %(10-200A为10mA步进)
2. 脉冲宽度:300us-600us 固定值
3. 开路输出电压:≥65V
4. 正向压降测量范围:10mA-10A:60V;10A-200A:20V
5. 正向压降测量电流电压的分辨率:
测量范围
测试电流
分辨率
测试电压
分辨率
压降
测量范围
10~100mA
mA
1mV
60V
100~1000mA
mA
1mV
60V
1~10A
1mA
1mV
60V
10~200A
10mA
1mV
20V
6. 供电电压:AC220V±10%,50Hz
7. 消耗功率:≤100W
8. 工作温度:25℃±10℃
9. 串口RS485通信接口
10. 配电脑软件,输出特性曲线、导出图像和excel数据点
11. 测试仪器可脱机独立运行
12. 选配栅极测量选件,可测量栅极端口电容、栅极正反向漏电、测量IG/VGE、IC(ID)/VGE;选配极性自动切换选件,可自动切换电压电流正负极性;选配耐压测试盒选件,可测试zui高5kV的器件耐压。有关选件具体信息,请咨询销售经理。