一、简介：

    声学扫描显微镜是一种非破坏性的检测组件的完整性，内部结构和材料的内部情况的仪器，作为无损检测分析中的一种，它可以实现在不破坏物料电气能和保持结构完整性的前提下对物料进行检测。被广泛的应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发（R&D）等领域。

二、超声扫描成像显微成像技术应用：

1.微电子:塑封IC,陶瓷电容,模片固定,芯片级封装,倒装,印刷电路板（PCB）等

2.微机械系统:粘结芯片,制造工艺评估,包装

3.军事/航天/汽车电子:高可靠性资格筛选,产品升级筛选

4.材料:陶瓷,剥离,金属,塑料,化合物

5.其他:微阵列芯片,生物芯片,微射流技术,传感器等

三、详细参数:

超声波探头频率：5M到450M

超声波扫描模式：A-Scan(某点扫描)、

                B-Scan(块扫描)、

                C-Scan(层扫描)、

                Multi-Scan(多层扫描)、

                Q-BAM(虚拟横截面)、

                T-Scan (穿透式扫描)、

                3-V(3维图像)、

                Tray-Scan(盘扫描)

扫描范围：12.9*12.4英寸

分辨率：8192*8192

选择的声波宽度：0.25纳秒到1微秒

Z轴分辨率：9纳米